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分析表征設(shè)備
形貌成分表征
探針式輪廓儀
探針式輪廓儀
型號(hào):DektakXT
DektakXT 探針式輪廓儀采用革命性的臺(tái)式設(shè)計(jì),可實(shí)現(xiàn)4Å(0.4nm)的優(yōu)異重復(fù)性,掃描速度可提高40%。探針式輪廓儀性能的這一重大突破是Dektak 五十多年創(chuàng)新和地位的。DektakXT結(jié)合了行業(yè)的技術(shù)和設(shè)計(jì),可提供高性能、易用性以及價(jià)值,實(shí)現(xiàn)從研發(fā)到質(zhì)量控制的更好過(guò)程監(jiān)控。DektakXT的技術(shù)突破為微電子、半導(dǎo)體、太陽(yáng)能、高亮度LED、醫(yī)療和材料科學(xué)行業(yè)的關(guān)鍵尺寸的納米級(jí)表面測(cè)量提供支持。
┃ 設(shè)備特點(diǎn)
臺(tái)階高度重復(fù)性?xún)?yōu)于4Å
Single-arch拱型結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),穩(wěn)定性高
“智能電子器件”設(shè)立了新低噪音基準(zhǔn)
新硬件配置使數(shù)據(jù)采集時(shí)間縮短40%
64-bit多核處理器,Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件,使數(shù)據(jù)分析速度提高了10倍
針尖自動(dòng)校準(zhǔn)系統(tǒng),讓用戶(hù)輕松更換針尖
單傳感器設(shè)計(jì),提供單一平面上低作用力和寬掃描范圍