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產(chǎn)品中心分析表征設備形貌成分表征
系統(tǒng)配置豐富，高分辨θ/θ閉環(huán)測角儀驅(qū)動系統(tǒng)、多位自動換樣系統(tǒng)、包括多層膜反射鏡平行光系統(tǒng)的全自動光學系統(tǒng)和二維陣列半導體探測器，配合功能齊全的控制和分析軟件，可在室溫和變溫條件下實現(xiàn)覆蓋固體粉末、薄膜、納米材料、塊體材料和液體樣品的常規(guī)衍射、掠入射衍射、in-plane衍射、X射線反射和小角X射線衍射(SAXS)等多種模式測量，可執(zhí)行高精度全自動物質(zhì)結(jié)構(gòu)測試分析任務
更新時間：2024-11-18
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